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國家標(biāo)準(zhǔn)/設(shè)備技術(shù)規(guī)范
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控制器高低溫、濕熱、煙霧、振動、長霉和阻燃試驗
發(fā)布時間:2022-04-22 08:24:07  ▏閱讀:

 

GB/T 37089-2018

往復(fù)式內(nèi)燃機驅(qū)動的交流發(fā)電機組控制器(8.1~8.6條款)

 

8 試驗方法

 

8.1 外觀檢查

正常目力檢查。

 

8.2 功能檢驗

按6.6規(guī)定的要求,功能檢驗均可在模擬試驗臺上采用模擬輸入、測量輸出的方式進(jìn)行。待模擬測試合格后,還須與機組實際配合進(jìn)行測試,待測試合格后,功能檢驗才算完成。

 

8.3 性能檢驗

8.3.1 數(shù)據(jù)采集誤差

試驗條件要求:

a)溫度范圍:15℃~35℃;

b)相對濕度:30%~93%;

c)氣壓:-0.677kPa~106 kPa;

d)工作電壓:DC 8.0V~35.0 V。

控制器的數(shù)據(jù)采集誤差應(yīng)符合表2的規(guī)定。

8.3.2 直流電壓緩降/緩升

按GB/T 14598.26進(jìn)行試驗。其中:

a) 額定電壓:UT=10V;

b)電壓從UT到0V時間(緩降歷時):60s;

c)電源關(guān)斷時間:5 min;

d)電壓從0V到UT時間:60s;

e)循環(huán)次數(shù):5次。

8.3.3 直流電源反極性反接

按GB/T 14598.26進(jìn)行試驗。其中:

a)額定電壓:UT=35V±2V;

b)反接時間:1min;

c)反接次數(shù):5次。

8.3.4 絕緣電阻測量

具體要求如下:

a)用兆歐表(500 V)測量控制器各端子口與地(機殼)之間的絕緣電阻;

b)環(huán)境試驗和介質(zhì)電壓試驗前后進(jìn)行絕緣電阻測量。

8.3.5 介質(zhì)電壓試驗

按GB/T 14598.27-2008中10.5.3.2進(jìn)行試驗。其中:

a)額定電壓小于等于65V的電路,試驗電壓為0.5kV,其他電路試驗電壓為2.2kV;

b)試驗時間:型式檢驗時間為1min,出廠檢驗時間大于1s;

c)試驗電流≤3.5mA。

 

8.4 環(huán)境適應(yīng)性檢驗

8.4.1 總體要求

受試產(chǎn)品在經(jīng)過環(huán)境適應(yīng)性檢驗后,應(yīng)滿足以下驗收準(zhǔn)則:

a)在試驗過程中和試驗后,受試產(chǎn)品均應(yīng)能連續(xù)地進(jìn)行預(yù)期的工作,無性能降低或者功能的喪失;

b)試驗前后絕緣電阻值符合表4的規(guī)定;

c)受試產(chǎn)品三防效果良好,涂覆層無剝落、變色或透明度損失的現(xiàn)象;

d)受試產(chǎn)品前面板、面膜無開膠、變形等現(xiàn)象;

e)顯示清晰,背光顏色正常。受試產(chǎn)品使用器件表面無明顯氧化現(xiàn)象。

8.4.2 高溫試驗

按GB/T 2423.2進(jìn)行試驗。其中:

a) 試驗方法:試驗Bb;

b)高溫:+70℃±2℃;

c)中溫:+55℃±2℃;

d)試驗時間:16h。

8.4.3 低溫試驗(常溫型)

按GB/T 2423.1進(jìn)行試驗。其中:

a) 試驗方法:試驗Ab;

b)低溫:-25℃±2℃;

c)中溫:-10℃±2℃;

d)試驗時間:16h。

8.4.4 低溫試驗(低溫型)

按GB/T 2423.1進(jìn)行試驗。其中:

a) 試驗方法:試驗Ab;

b)低溫:-40℃±2℃;

c)中溫:-10℃±2℃;

d)試驗時間:16h。

8.4.5 交變濕熱試驗

按GB/T 2423.4進(jìn)行試驗。其中:

a)試驗方法:交變方式,方法1;

b)高溫:+55℃±2℃;

c)低溫:+23℃±2℃;

d)相對濕度:93%±3%;

e)循環(huán)次數(shù):2次。

8.4.6 恒定濕熱試驗

按GB/T 2423.3進(jìn)行試驗。其中:

a)電流線路無電流;

b)溫度:+40℃±2℃;

c)相對濕度:93%±3%;

d)試驗時間:96h。

8.4.7 溫度變化試驗(常溫型)

按GB/T 2423.22進(jìn)行試驗。其中:

a) 試驗方法:試驗Nb;

b)高溫溫度:+70℃±2℃;

c)室溫溫度:+23℃±2℃;

d)低溫溫度:-25℃±2℃;

e)高溫/低溫保持時間:3h;

f)循環(huán)周期:5個。

8.4.8 溫度變化試驗(低溫型)

按GB/T 2423.22進(jìn)行試驗。其中:

a)試驗方法:試驗Nb;

b)高溫溫度:+70℃±2℃;

c)室溫溫度:+23℃±2℃;

d)低溫溫度:-40℃±2℃;

e)高溫/低溫保持時間:3h;

f)循環(huán)周期:5個。

8.4.9 高溫貯存試驗

按GB/T 2423.2進(jìn)行試驗。其中:

a) 控制器在非工作狀態(tài)下;

b) 試驗方法:試驗Bb;

c) 溫度:+80℃±2℃;

d) 試驗時間:72h。

8.4.10 低溫貯存試驗(常溫型)

按GB/T 2423.1進(jìn)行試驗。其中:

a)控制器在非工作狀態(tài)下;

b)試驗方法:試驗Ab;

c)溫度:-30℃±2℃;

d)試驗時間:72h。

8.4.11 低溫貯存試驗(低溫型)

按GB/T 2423.1進(jìn)行試驗。其中:

a)控制器在非工作狀態(tài)下;

b)試驗方法:試驗Ab;

c)溫度:-45℃±2℃;

d)試驗時間:72h。

8.4.12 耐油性試驗

按GB/T 1690-2010進(jìn)行試驗。其中:

a)按GB/T 1690-2010中7.8單面試驗要求進(jìn)行;

b)控制器面板單面耐受動力柴油28d±2h,尺寸變化小于0.15mm;

c) 試驗溫度:15℃~45℃;

d) 試驗周期按GB/T 1690-2010中6.2進(jìn)行,選擇28d±2h;

e) 試驗?zāi)M液體按GB/T 1690-2010中表A.1中F種類。

8.4.13 鹽霧試驗

按GB/T 2423.18進(jìn)行試驗。其中:

a)試驗類別:試驗Kb;

b)嚴(yán)酷等級(2):三個噴霧周期,每個2h,每個噴霧周期后有一個為期22h的濕熱貯存周期;

c)鹽溶液:5%氯化鈉(NaCl)溶液在20℃±2℃時的pH值在6.5~7.2之間;

d)相對濕度:90%~95%;

e)溫度:40℃±2℃。

8.4.14 長霉試驗

按GB/T 2423.4進(jìn)行試驗。其中:

a)將試驗樣品連續(xù)暴露28d;

b)經(jīng)28d暴露期滿,取出試驗樣品立即目視觀察其表面長霉情況;

c)長霉程度應(yīng)不超過規(guī)定的2級長霉等級。即:明顯看見長霉,在試驗樣品表面上的覆蓋面積小于25%。

8.4.15阻燃試驗

按GB/T 5169.16進(jìn)行試驗。其中:

a) 試驗樣品:成品外殼試驗;

b) 阻燃等級:V-0(UL94);

8.4.16 碰撞試驗

按GB/T 2423.6進(jìn)行試驗。其中:

a)脈沖波形:半正弦形脈沖;

b)峰值加速度:20g(200m/s2);

c)脈沖持續(xù)時間:16ms;

d)3個軸各方向的碰撞次數(shù):1000±10。

8.4.17 沖擊試驗

按GB/T 2423.5進(jìn)行試驗。其中:

a)脈沖波形:半正弦形脈沖;

b) 峰值加速度:50g(500m/s2);

c) 脈沖持續(xù)時間:11ms;

d) 沖擊的施加:三個互相垂直方向的每一方向連續(xù)施加三次沖擊,即共18次。

8.4.18 振動試驗

按GB/T 2423.10進(jìn)行試驗。其中:

a)頻率范圍:5 Hz~8 Hz、振幅±7.5mm、固定位移、3個軸向分別振動14 min;

b)頻率范圍:8 Hz~500 Hz、固定加速度2g、3個軸向分別振動120 min;

c)單點控制;

d)掃頻循環(huán)數(shù):10。

8.4.19 防護(hù)等級

按GB/T 2423.10進(jìn)行試驗。產(chǎn)品處于非工作狀態(tài),并帶有密封圈,安裝在封閉的控制箱上。

8.4.20 陽光輻射防護(hù)

按GB/T 2423.24進(jìn)行試驗。其中:

a)控制器在工作狀態(tài),嵌入在模擬控制箱面板上;

b)試驗程序A(光照8h,遮暗16h);

c)試驗溫度:+55℃±2℃;

d)試驗時間:3個循環(huán)(3d)。

 

8.5電磁兼容檢驗

8.5.1 總體要求

電磁兼容性檢驗應(yīng)在下列通用試驗條件下進(jìn)行:

a)作為臺式設(shè)備試驗;

b)所有這些試驗除非另有規(guī)定,控制器均在其正常工作位置;

c)所有預(yù)定接地的部分接地;

d) 控制器在工作狀態(tài),模擬發(fā)電機組正常運行狀態(tài);

e)電壓線路和輔助線路通以額定電壓;

f) 電流線路通以5A電流;

g)其他檢驗條件及要求見GB/T 14598.26中相關(guān)規(guī)定。

在經(jīng)過電磁兼容性檢驗后,受試產(chǎn)品應(yīng)能連續(xù)地進(jìn)行預(yù)期的工作,無性能降低或者功能的喪失。在檢驗過程中,允許有能自行恢復(fù)的功能或性能的降低或喪失存在,但不允許發(fā)生實際工作狀態(tài)的改變和儲存資料的變化,且采集精度符合要求。

8.5.2 輻射發(fā)射騷擾試驗(外殼)

按GB/T 6113.203進(jìn)行試驗。其中:

a)測量其頻率范圍230 MHz~1 GHz的外殼端口輻射發(fā)射;

b)測量距離為產(chǎn)品外殼端口10m;

c)其外殼端口輻射發(fā)射限值應(yīng)小于47μV/m。

8.5.3 傳導(dǎo)發(fā)射騷擾試驗(交流、直流和通信口)

按GB/T 6113.201和GB/T 6113.102進(jìn)行試驗。其中:

a) 測量頻率范圍為10kHz~30 MHz的傳導(dǎo)發(fā)射;

b)測量接收機的帶寬為10kHz~150 kHz應(yīng)為200 Hz,150 kHz~30 MHz應(yīng)為9 kHz;

c) 頻率范圍在10kHz~150kHz控制器供電端子處射頻電壓的測量結(jié)果應(yīng)不超過69dBμV~120 dBμV。

8.5.4 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗

按GB/T 17626.4進(jìn)行試驗。其中:

a)脈沖群持續(xù)時間:15ms;

b) 脈沖群周期:300ms;

c) 重復(fù)頻率:5kHz±0.05 kHz;

d) 試驗時間:1 min;

e) 開路輸出試驗電壓峰值:直流電源端口、功能地為2kV,輸入/輸出、數(shù)據(jù)、控制、信號端口為1kV(線/地)。

8.5.5 射頻電磁場輻射抗擾度試驗

按GB/T 17626.3進(jìn)行試驗。其中:

a)暴露于電磁場中的電纜長度:1m;

b)頻率范圍:80 MHz~2 700 MHz;

c)在1kHz正弦波上以80%調(diào)幅載波調(diào)制;

d)未調(diào)制的試驗場強:3V/m;

e)掃描速率:1.5×10-3dec/s。

8.5.6 靜電放電抗擾度試驗

按GB/T 17626.2進(jìn)行試驗。其中:

a)試驗電壓:接觸放電:4kV;空氣放電:4kV;

b)放電次數(shù):正極性10次,負(fù)極性10次。

8.5.7 浪涌抗擾度試驗

按GB/T 17626.5進(jìn)行試驗。其中:

a)浪涌發(fā)生器與產(chǎn)品之間的電纜長度:1m;

b)以差模和共模方式(線一線,線一地)試驗;

c)試驗次數(shù):正極性5次,負(fù)極性5次;

d)連續(xù)脈沖間的時間間隔:最大1min;

e)試驗電壓見GB/T 14598.26中相關(guān)規(guī)定。

8.5.8 射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)抗擾度試驗

按GB/T 17626.6進(jìn)行試驗。其中:

a)頻率范圍:0.15 MHz~80 MHz;

b)在1kHz正弦波上以80%調(diào)幅載波調(diào)制;

c)頻率掃描速率:≤1.5×10-3dec/s;

d)未調(diào)制騷擾信號的開路試驗電壓:U0=3V。

8.5.9 1 MHz脈沖群抗擾度試驗

按GB/T 14598.26進(jìn)行試驗。其中:

a)在電壓線路和額定電壓超過40V的輔助線路上的試驗電壓見 GB/T 14598.26中相關(guān)規(guī)定;

b)試驗頻率:1 MHz,重復(fù)速率:400 Hz;

c)試驗時間:10s。

注:通信口是指RS232/485,USB不認(rèn)為是一個通信口。

 

8.6 可靠性檢驗

8.6.1 試驗條件

試驗條件如下:

a)恒定溫度(70±3)℃;

b)老化時間1.25年;

c)試驗周期:3個月檢查一次。

8.6.2 試驗方法

試驗方法如下:

a)將受試產(chǎn)品均勻放置于恒溫老化箱內(nèi);

b)按照產(chǎn)品分別連接工作電源,暫不做通電狀態(tài);

c)關(guān)閉恒溫老化箱的箱門并鎖緊;

d)開啟恒溫老化箱的電源,并設(shè)定試驗溫度;

e)待溫度恒定在設(shè)定溫度10min后,開通受試產(chǎn)品的工作電源,進(jìn)入長期恒溫老化試驗。

8.6.3 機械電氣壽命試驗

按GB/T 14598.1-2002進(jìn)行試驗。

 

 

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